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美国OXFORD性价比*高的铜厚测量仪CMI165

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产品名称: 美国OXFORD性价比*高的铜厚测量仪CMI165
产品型号: CMI165
产品展商: 美国OXFORD
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简单介绍

美国OXFORD性价比*高的铜厚测量仪CMI165CMI165带温度补偿功能的面铜测厚仪 CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补 偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。CMI165的温度补偿功能解决了这个问题,确保测量结果**而不受铜箔


美国OXFORD性价比*高的铜厚测量仪CMI165  的详细介绍
美国OXFORD性价比*高的铜厚测量仪CMI165
CMI165带温度补偿功能的面铜测厚仪
           CMI165
是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补
偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。CMI165的温度补偿功能解决了这个问题,确保测量结果**而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩,确保探针的耐用性,即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。
可测试高温的PCB铜箔
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显示单位可为milsμmoz
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可用于铜箔的来料检验
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可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试
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可用于电镀铜后的面铜厚度测试
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配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头
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可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
产品规格:
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利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN 14571测试标准
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厚度测量范围:化学铜:(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
               
电镀铜:(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
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强大的数据统计分析功能,包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。
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数据显示单位可选择milsμmoz
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仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择
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仪器无需特殊规格标准片,同样可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量,可测线宽范围低至0.2 mm(8mil)
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仪器可以储存9690条检测结果(测试日期时间可自行设定)
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测试数据通过USB2.0实现高速传输,也可保存为Excel格式文件
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客户可根据不同应用灵活设置仪器
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用户可选择固定或连续测量模式
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仪器使用普通AA电池供电
 
SRP-T1
CMI165专用可更换探针牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上头个推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。
 
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